picoX 5084 是尤譜光電自主開(kāi)發(fā)的X射線激發(fā)閃爍體發(fā)光壽命/衰減（亦稱TRRL）測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)采用濱松公司獨(dú)家提供的N16432（原N5084型）光激發(fā)X射線光管，其X射線產(chǎn)生受光電陰極光照的控制，從而可以利用脈沖光產(chǎn)生脈沖X射線。借助皮秒激光激發(fā)產(chǎn)生的高重頻、亞百皮秒的超短X射線脈沖，可迅速完成基于時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)（TCSPC）的快衰減(小于ns ~ μs)測(cè)試；而采用長(zhǎng)脈沖、高能量、低重頻激光激發(fā)時(shí)，通過(guò)多通道定標(biāo)（MCS）方法完成長(zhǎng)衰減（μs ~ ms）測(cè)試亦只需分分鐘時(shí)間。picoX 5084將閃爍體衰減測(cè)試的時(shí)間周期從傳統(tǒng)放射源方式所需的小時(shí)~天尺度提升至秒~分鐘尺度，同時(shí)將測(cè)試靈敏度提高數(shù)個(gè)量級(jí)。

系統(tǒng)支持塊狀、薄膜、粉末、液相樣品的透射/反射方向測(cè)試，還可擴(kuò)展X射線激發(fā)光譜（XEL）、低溫/變溫測(cè)試、直接探測(cè)器時(shí)間響應(yīng)測(cè)試等功能。覆蓋亞納秒~毫秒衰減的范圍支持無(wú)機(jī)閃爍體、有機(jī)閃爍體、鈣鈦礦閃爍體、稀土閃爍體等多種不同特性的材料。

功能特點(diǎn)

? <1ns ~ μs 快速閃爍發(fā)光衰減/ TRRL測(cè)試，可選μs ~ ms 衰減測(cè)試

? 透射方向測(cè)試和反射方向（前表面）測(cè)量光路

? 高度集成、體積緊湊、測(cè)試操作簡(jiǎn)單

? 樣品低溫/ 變溫功能（可選）

? 穩(wěn)態(tài)X射線激發(fā)發(fā)光（XEL）光譜測(cè)試（可選）

? X射線光電探測(cè)器時(shí)間響應(yīng)測(cè)試功能（可選）

? 低能X射線，屏蔽嚴(yán)密、安全可靠

主要參數(shù)

測(cè)試示例

快速閃爍體衰減測(cè)試結(jié)果

稀土閃爍體毫秒衰減測(cè)試結(jié)果